產品說明、技術參數及配置
EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統,可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果,
利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等關注的元素進行準確分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,
大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
性能特點
超薄窗X光管
數字多道技術,讓測試更快,計數率達到100000CPS,準度更高,在合金檢測中效果更好
FAST-SDD探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線激發待測元素,對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統,屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解,使被測元素的測試結果具有相等的分析度
多參數線性回歸方法,使元素間的吸收、增大效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(管壓、管流、真空度)一目了然
標準配置
超薄窗X光管
FAST-SDD探測器
數字多道技術
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
真空泵